Veröffentlicht am Juni 10, 2019Juni 10, 2019 durch Herausgeber0Korrelation zwischen Trägerrekombinationslebensdauer und Vorwärtsspannungsabfall in 4H-SiC-PiN-Dioden Sept, 2010 Korrelation zwischen Trägerrekombinationslebensdauer und Vorwärtsspannungsabfall in 4H-SiC-PiN-Dioden